雙(shuang)光(guang)束紫外可(ke)見分(fen)光(guang)光(guang)度(du)計(ji)

T9系(xi)列雙(shuang)光(guang)束紫外可(ke)見分(fen)光(guang)光(guang)度(du)計(ji)

壹、主要(yao)特點(dian)

1.超低(di)的(de)雜散光--光(guang)度範(fan)圍(wei)寬(kuan)達(da) -6Abs~6Abs

混合C-T雙(shuang)單器(qi)光(guang)學系統(tong)，采(cai)用特殊塗(tu)層(ceng)提高(gao)反射(she)率光學器件(jian)，在(zai)保(bao)證光學系統(tong)高(gao)分(fen)辨(bian)率(lv)的(de)同(tong)時，有(you)效提高(gao)了(le)系(xi)統(tong)光(guang)通(tong)量(liang)，實現儀器(qi)220nm雜散光指(zhi)標優(you)於(yu)0.0001%，340nm、360nm雜散光指(zhi)標優(you)於(yu)0.0001%。

2.寬波長範(fan)圍(wei)--實現深紫外區(qu)測(ce)量

儀(yi)器紫外光(guang)源選(xuan)用高(gao)性能氘(dao)燈(deng)，檢(jian)測(ce)器選(xuan)用紫外增強高(gao)靈(ling)敏(min)度(du)光電倍增管(guan)，實現185nm~900nm的(de)寬(kuan)波長範(fan)圍(wei)，在(zai)氮氣(qi)吹(chui)掃(sao)時可(ke)實現185nm以下(xia)深紫外測(ce)量。

3.自(zi)動光(guang)譜帶掃描(miao)-測(ce)量數(shu)據(ju)更(geng)加準確。

儀器(qi)采(cai)用分(fen)立(li)式(shi)三縫(feng)組(zu)合連續可(ke)變狹(xia)縫(feng)設計(ji)，可(ke)自(zi)動在(zai)0.1nm~5.0nm範(fan)圍內進(jin)行(xing)光(guang)譜(pu)帶寬掃(sao)描，並識別樣(yang)品(pin)分(fen)子(zi)共振吸收(shou)*時的(de)光(guang)譜(pu)帶寬，從而(er)確定最佳(jia)實驗(yan)條件(jian)。

4.開(kai)放式(shi)儀器應(ying)用平臺(tai)--方便(bian)客(ke)戶二(er)次(ci)開發(fa)

儀(yi)器(qi)采(cai)用模塊(kuai)化(hua)設(she)計(ji)，提供(gong)開(kai)放式(shi)光學平臺(tai)及(ji)電(dian)器接口(kou)，方便(bian)科(ke)研(yan)人員(yuan)根(gen)據(ju)工(gong)作需(xu)求(qiu)進(jin)行(xing)二(er)次(ci)開發(fa)。

5.內置三種光源--方便(bian)客(ke)戶進(jin)行(xing)波長校(xiao)準

儀器除(chu)了(le)提供(gong)高(gao)性能氘(dao)燈(deng)、長壽(shou)命鎢(wu)燈(deng)兩(liang)種工作(zuo)光(guang)源外，還(hai)內置了(le)波長校(xiao)準光源，方便(bian)住(zhu)戶在(zai)需(xu)要(yao)時進(jin)行(xing)波長校(xiao)準，保(bao)證測(ce)量數(shu)據(ju)的(de)準確可靠(kao)。

6.高(gao)效空(kong)氣(qi)阻(zu)隔(ge)光(guang)學系統(tong)--充(chong)分(fen)保(bao)障(zhang)儀器使用壽命

儀器(qi)光(guang)學系統(tong)采(cai)用全(quan)密(mi)封(feng)結(jie)構設(she)計(ji)，實現了(le)與(yu)外界(jie)環(huan)境(jing)的(de)高(gao)效隔(ge)離，防(fang)止光(guang)學器件(jian)因(yin)為(wei)灰(hui)塵和(he)腐(fu)蝕(shi)性氣(qi)體(ti)侵(qin)入(ru)導致(zhi)性能的(de)下(xia)降，充分(fen)保(bao)障(zhang)儀器使用壽命。

二(er)、儀(yi)器參數(shu)

三、產(chan)品(pin)型(xing)號(hao)

四(si)、選(xuan)配附件(jian)