雙光(guang)束(shu)紫(zi)外可見(jian)分光(guang)光度(du)計(ji)

T10系列雙(shuang)光(guang)束(shu)紫(zi)外可見(jian)分光(guang)光度(du)計(ji)

壹(yi)、主要特點(dian)

1.超(chao)低(di)的雜(za)散(san)光(guang)--光度(du)範圍(wei)寬(kuan)達(da) -8Abs~8Abs

混(hun)合C-T雙(shuang)單器光(guang)學(xue)系統，采用特殊塗層(ceng)提高(gao)反(fan)射(she)率(lv)光(guang)學(xue)器件(jian)，在(zai)保(bao)證(zheng)光(guang)學(xue)系統高(gao)分辨率(lv)的同(tong)時(shi)，有效(xiao)提高(gao)了(le)系統光通量，實現(xian)儀(yi)器220nm雜(za)散(san)光(guang)指(zhi)標(biao)優(you)於(yu)0.0004%，340nm、360nm雜(za)散(san)光(guang)指(zhi)標(biao)優(you)於(yu)0.0002%。

2.寬(kuan)波(bo)長(chang)範圍(wei)--實現(xian)深紫(zi)外區測(ce)量

儀(yi)器紫(zi)外光源選(xuan)用高(gao)性(xing)能(neng)氘(dao)燈(deng)，檢(jian)測(ce)器選(xuan)用紫(zi)外增強(qiang)高(gao)靈敏(min)度光(guang)電(dian)倍(bei)增管，實現(xian)185nm~900nm的寬(kuan)波(bo)長(chang)範圍(wei)，在(zai)氮氣(qi)吹(chui)掃(sao)時(shi)可實現(xian)185nm以下深紫(zi)外測量(liang)。

3.自動光譜(pu)帶(dai)掃描(miao)-測(ce)量(liang)數(shu)據更加準(zhun)確。

儀(yi)器采(cai)用分立式三縫(feng)組(zu)合連(lian)續可變(bian)狹縫(feng)設計(ji)，可自(zi)動在(zai)0.1nm~5.0nm範(fan)圍(wei)內(nei)進行光(guang)譜(pu)帶寬(kuan)掃(sao)描(miao)，並識別(bie)樣(yang)品(pin)分子(zi)共振(zhen)吸(xi)收*時(shi)的光(guang)譜(pu)帶寬(kuan)，從(cong)而(er)確定最(zui)佳實驗條件。

4.開(kai)放式儀(yi)器應用(yong)平(ping)臺(tai)--方便客戶(hu)二次開(kai)發

儀(yi)器采(cai)用模塊化(hua)設計(ji)，提供(gong)開(kai)放式光(guang)學(xue)平(ping)臺(tai)及(ji)電(dian)器接口(kou)，方便科(ke)研(yan)人(ren)員(yuan)根(gen)據工作需(xu)求(qiu)進行二次開(kai)發。

5.內(nei)置(zhi)三種光源--方便客戶(hu)進行波(bo)長(chang)校準(zhun)

儀(yi)器除(chu)了提供高(gao)性(xing)能(neng)氘(dao)燈(deng)、長(chang)壽命(ming)鎢燈(deng)兩種工作光(guang)源外，還內(nei)置(zhi)了波(bo)長(chang)校準(zhun)光(guang)源，方便住戶(hu)在(zai)需(xu)要時(shi)進行波(bo)長(chang)校準(zhun)，保(bao)證(zheng)測(ce)量(liang)數(shu)據的準(zhun)確可靠。

6.高(gao)效(xiao)空氣(qi)阻(zu)隔光學(xue)系統--充分保(bao)障(zhang)儀(yi)器使用壽(shou)命(ming)

儀(yi)器光(guang)學(xue)系統采用全(quan)密封(feng)結構(gou)設計(ji)，實現(xian)了(le)與外界環(huan)境的高(gao)效(xiao)隔離，防止(zhi)光學(xue)器件(jian)因為(wei)灰(hui)塵(chen)和(he)腐(fu)蝕(shi)性(xing)氣(qi)體侵入(ru)導致性能(neng)的下降，充分保(bao)障(zhang)儀(yi)器使用壽(shou)命(ming)。

二、儀(yi)器參(can)數(shu)

三、產(chan)品(pin)型號(hao)

四、選(xuan)配(pei)附件(jian)