雙光束(shu)紫外(wai)可見(jian)分(fen)光光(guang)度(du)計

T9+系列雙(shuang)光束(shu)紫外(wai)可見(jian)分(fen)光光(guang)度(du)計

壹、主(zhu)要(yao)特點(dian)

1.超低的雜(za)散光--光度(du)範圍寬達 -7Abs~7Abs

混合C-T雙單(dan)器(qi)光(guang)學(xue)系(xi)統(tong)，采(cai)用特殊(shu)塗層提(ti)高(gao)反射率光學(xue)器(qi)件(jian)，在(zai)保(bao)證光(guang)學(xue)系(xi)統(tong)高(gao)分(fen)辨率的同(tong)時，有效提(ti)高(gao)了系(xi)統(tong)光通(tong)量(liang)，實現儀器220nm雜散(san)光(guang)指標(biao)優(you)於0.00007%，340nm、360nm雜(za)散光(guang)指標(biao)優(you)於0.00005%。

2.寬波(bo)長(chang)範圍--實(shi)現深紫外(wai)區(qu)測(ce)量(liang)

儀器紫外(wai)光源(yuan)選用高(gao)性能(neng)氘(dao)燈(deng)，檢(jian)測(ce)器(qi)選(xuan)用紫外(wai)增(zeng)強高(gao)靈敏(min)度(du)光電(dian)倍增(zeng)管(guan)，實現185nm~900nm的寬波(bo)長(chang)範圍，在(zai)氮氣吹(chui)掃(sao)時可(ke)實(shi)現185nm以下深紫外(wai)測量(liang)。

3.自動(dong)光譜帶掃描-測量(liang)數據更加(jia)準確。

儀器采(cai)用分(fen)立(li)式(shi)三縫組(zu)合(he)連續(xu)可變(bian)狹縫設(she)計，可(ke)自動(dong)在0.1nm~5.0nm範圍內(nei)進(jin)行光譜帶寬掃描，並(bing)識別(bie)樣品分(fen)子共振(zhen)吸收(shou)*時(shi)的光(guang)譜帶寬，從(cong)而(er)確定最(zui)佳(jia)實(shi)驗條件(jian)。

4.開(kai)放式(shi)儀器應(ying)用平臺--方便客(ke)戶(hu)二(er)次(ci)開發

儀器(qi)采(cai)用模塊化(hua)設(she)計，提(ti)供(gong)開放式(shi)光學(xue)平臺及(ji)電(dian)器接(jie)口(kou)，方便科(ke)研人(ren)員根(gen)據工(gong)作(zuo)需(xu)求(qiu)進(jin)行二(er)次(ci)開發。

5.內置(zhi)三種光(guang)源(yuan)--方便客(ke)戶(hu)進(jin)行波(bo)長(chang)校(xiao)準

儀器除(chu)了提(ti)供(gong)高(gao)性能(neng)氘(dao)燈(deng)、長(chang)壽命(ming)鎢(wu)燈(deng)兩種工(gong)作(zuo)光(guang)源(yuan)外(wai)，還內置了波(bo)長(chang)校(xiao)準光源(yuan)，方便住(zhu)戶(hu)在(zai)需(xu)要(yao)時進(jin)行波(bo)長(chang)校(xiao)準，保(bao)證測(ce)量(liang)數據的準確可靠。

6.高(gao)效空(kong)氣(qi)阻隔(ge)光學(xue)系(xi)統(tong)--充分(fen)保(bao)障(zhang)儀(yi)器(qi)使(shi)用(yong)壽(shou)命

儀(yi)器(qi)光學(xue)系(xi)統(tong)采(cai)用全密封結(jie)構(gou)設(she)計，實(shi)現了與外(wai)界環境的高(gao)效隔(ge)離，防止(zhi)光(guang)學(xue)器(qi)件(jian)因(yin)為灰塵(chen)和(he)腐蝕性氣(qi)體侵入(ru)導(dao)致性能的下(xia)降，充分(fen)保(bao)障(zhang)儀(yi)器(qi)使(shi)用(yong)壽(shou)命。

二(er)、儀(yi)器參數

三(san)、產品型(xing)號(hao)

四、選(xuan)配附件(jian)